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Incidence Angle Modifier 
72套BOMs的IAM测试结果继续显示与PVSyst默认菲涅耳ARC模型有很强的一致性。虽然精确的IAM测试可以区分BOMs之间的细微差别，但Kiwa PVEL的测量结果可能与一些制造商提供的过于乐观的IAM曲线相矛盾。
72
在2026记分卡数据集中有72组测过BOMs的IAM数据
0.04%
带IAM模拟的发电量相比默认值其中位数差异在
0.57%
带IAM模拟的发电量影响范围约
入射角修正系数(IAM)是评估光伏组件对来自不同角度的光的响应。IEC 61853-2:2016定义了通过测量短路电流(Isc)来表征光伏器件相对于入射角(AOI)的IAM值的室内测试方法。Kiwa PVEL已经改进了这种测试方法，以记录玻璃//背板(单玻)和玻璃//玻璃(双玻)组件的IAM配置文件。这种独特的室内IAM测试方法在精度和可重复性方面已经被证实其结果是世界领先水平。
IAM 要点
与默认对齐
0.04 %
与PVsyst默认值相比带IAM模拟发电量的中位数差异在
在过去的一年里，使用Kiwa PVEL先进的IAM测试方法进行测量继续表明商用组件的IAM值与PVsyst的菲涅耳ARC默认值相对一致。在美国拉斯维加斯单轴跟踪系统模拟中，与使用PVsyst默认值相比其测量的IAM发电量模拟的中位数只增加了0.04%。
结果范围
0.57 %
在IAM数据集中其发电量影响范围约
Kiwa PVEL拥有世界上²精度最高的IAM测试仪器，能可靠地测量BOMs之间IAM性能的差异。在对美国拉斯维加斯的单轴跟踪项目进行PVsyst模拟，性能最高的表现者其发电量比性能最低的表现者要高0.57%。有关BOM影响的更多信息请参阅如下 测试结果聚焦
电池技术影响
0.2 %
与TOPCon和PERC相比，HJT的模拟发电量影响减少了
虽然HJT的样本量较小，但Kiwa PVEL的IAM测量结果表明HJT组件的IAM平均值低于TOPCon和PERC组件。对于美国拉斯维加斯的模拟单轴跟踪站点来说，这一差异减少了0.2%的能量产出，这可能是由于HJT非晶硅电池对蓝光的吸收。
IAM 测试 结果聚焦
BOM差异导致IAM性能的可测量参数的变化。一些制造商/BOMs在电池之间使用贴膜（LRF）工艺即将反射光引导到电池上。近年来LRF的使用越来越受欢迎，在2026记分卡数据集中30%的IAM测试BOMs使用了LRF。虽然LRFs提高了功率输出（在正常条件下测量时），但它们会略微降低IAM性能。下图显示了在单项IAM测试上测试的TOPCon BOMs的选择，比较了有和没有LRF的组件性能。在美国拉斯维加斯部署的单轴跟踪系统的发电量模拟中，具有LRF的组件比没有LRF的组件低0.12%。
与PVsyst菲涅耳ARC默认值(代表0.0)相比，在对美国拉斯维加斯的单轴跟踪站点模拟中测量的IAM对发电量的影响。
查看方格图解读指南
IAM BOMs 测试结果
Kiwa PVEL在过去一年中对72套BOMs进行IAM测量(每个BOM测量三个样本)，此举继续显示其结果相对紧密的一致性。就平均而言，在30度内这些测量值与PVsyst菲涅耳ARC默认值一致，而50度以上则优于PVsyst菲涅耳ARC默认值。
Kiwa PVEL从2026年记分卡数据集中对72套BOMs的IAM测试结果进行分析，结果显示出很强的一致性。PVsyst的菲涅耳ARC默认值包含在内供参考
PAN和IAM 测试流程，哪些光伏组件材料需要被评估，以及一个案例分析为什么PAN (以及IAM)很重要都可以在kiwa.com/pvel 这里找到。
[1] Riedel-Lyngskær N, Santamaría Lancia AA, Plag F, et al. Interlaboratory comparison of angular-dependent photovoltaic device measurements: Results and impact on energy rating. Prog Photovolt Res Appl. 2021; 29: 315–333. https://doi.org/10.1002/pip.3365
[2] Kiwa PVEL在60°入射角(AOI)范围内的总扩展不确定度小于0.5%。在之前的工作中比较了其他实验室的IAM不确定性2，其在60°入射角(AOI)范围内报告的总扩展不确定度为1.2%至2.5%。
