Potential Induced Degradation

PID结果在过去一年中有所改善，2025年生产的BOMs中有83%在PID(-)之后功率衰减<2%。但是PID仍然是一个可靠性相关的话题，有15%的PID BOMs出现了PID失效，有一套BOM显示出不可恢复的PID，功率衰减超20%。

167

套BOMs是PID的最佳表现者

38

家制造商是PID的最佳表现者

15%

的BOMs经历了一次PID失效

较小的功率衰减

83%

2025年生产的BOMs中，有83%在PID(-)测试后衰减<2%。

这比2024年生产的72%的BOMs其衰减率<2%有所上升，代表了统计学上的显著变化。PID(-)后的衰减中值从2024年生产的BOMs的1.5%下降到2025年生产的BOMs的1.1%。平均PID(-)功率衰减值也有所改善。有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。

失效持续存在

15%

的BOMs经历了至少一次PID失效。

在PID测试期间检测到的失效包括6%的PID BOMs遭遇功率衰减失效，5%的PID BOMs遭遇脱层失效，2%的PID BOMs遭遇安全失效以及1%的PID BOMs遭遇二极管失效。。请参阅失效页面了解更多信息。

PID极化

83%

的PID功率衰减失效是由于PID极化造成的。

6套具有PID功率衰减失效的BOMs中有5套受到PID极化的影响。而这种衰减通常在短时间的紫外照射后是可逆的，有报道称在某些现场条件下户外也发生了PID极化现象。

PID(-) vs PID(+)

82%

相比于PID(+)极性衰减 82%,的BOMs有更高的PID(-)极性衰减。

在2026记分卡数据集中只有1套BOM其PID(-)的衰减<2%及PID(+)的衰减≥2%，阻止成为最佳表现者。相反，18%的BOMs其PID(+)的衰减<2%以及PID(-)的衰减≥2%。

PID测试结果聚焦

尽管PID分流(PID-s)是众所周知的失效模式，但在一些BOMs上仍然可以看到PID-p的情况。最近的一套BOM在PID192(-)测试后显示出特别高的PID-p功率衰减(>20%)，主要是填充因子损失导致的。值得注意的是，低辐照度下的性能衰减尤为严重，几乎达到30%。PID192(-)测试后的EL图像显示“棋盘”模式，并伴有边缘变暗。制造商呈递了新的PQP样品进行PID复测，并在PID192(-)测试后衰减<2%。这表明电池的严格质量控制是可能的，也是必要的，以确保适当的抗PID性能。