Ultraviolet Induced Degradation

Kiwa PVEL在过去一年中观察到UVID结果在统计学上有显著改善。然而，UVID仍然是一个有关组件可靠性和性能的关键问题，目前TOPCon BOMs的UVID功率衰减中值为3.0%，这表明仍有改进的空间。

91

套BOMs是UVID的最佳表现者

19

家制造商是UVID的最佳表现者

3%

的BOMs经历了一次UVID失效

UVID改善

3.0%

TOPCon的UVID功率衰减中值为

过去一年的UVID测试结果表明TOPCon BOMs的UVID性能有所提高，衰减中值从4.2%降至3.0%。这可能是由于在电池生产设备中提升了工艺和质量控制；然而对于一些制造商来说UVID仍然是一个挑战。

失效减少

3%

的BOMs经历了一次UVID失效

随着UVID功率衰减中位数在过去一年中有所下降，出现UVID失效的BOMs百分比也有所下降，从2025年记分卡中的6%下降到3%。最近的失效是一套BOM在UVID测试后脱层，另一套BOM的功率衰减高到足以让制造商在新样品上进行UVID重测

户外vs.室内

8%

全年最大户外功率衰减为

PQP中的可选户外暴晒测试已经发现一些BOMs在加利福尼亚州的戴维斯安装后一年后出现了重大衰减(中位衰减值：2%，最大衰减值：8%)，这主要归结于UVID，因为这些BOMs在LID和LETID后的综合功率衰减小于1%，并且EL图像显示明显的棋盘图案。

暗态储存亚稳态

1%

UV暴晒后暗态储存功率损失高达每天 1%

TOPCon和HJT组件在测试完成后都表现出暗态存储衰减现象；这种影响在UVID敏感的TOPCon组件中更为明显，功率损失高达每天1%。在全光谱短暂照射下可以部分或完全逆转亚稳态衰减，减少功率损失至暗衰前。

UVID 测试结果聚焦

即使来自同一供应商的电池在UVID敏感性上也会有显著差异。在如下案例中，BOM 1使用M10电池并且在UVID120后经历了14.1%的功率损失。BOM 2使用来自同一电池制造商的G12R电池，UVID120后功率损失为3.6%。这种差异完全是由电池工艺配方（主要是电池钝化层和减反射层）导致，其微小的变化可能会产生巨大的影响。例如，较薄的AlOx层(4nm vs. 7nm)对可移动的氢离子传输起到较弱的阻挡作用，从而提供较差的UVID性能。充分的电池生产工艺和质量控制是必要的，以确保抗UVID性能。

BOM-1 - UVID120后 – 14.1%功率损失

BOM-2 - UVID120后 – 3.6%功率损失

注: BOM 1显示了UVID 后“棋盘”模式和功率损失的极端情况。而BOM 2的UVID衰减明显较低，但仍超过了Top Performer阈值。单击每张图像以查看相应的全尺寸EL图片。

[1] M. U. Khan et al., "Charge Trapping, Hydrogen Accumulation, and Structural Rearrangement: A Complete Model for Ultraviolet-Induced Degradation in TOPCon Devices." Solar Energy Materials and Solar Cells 298 (May 2026): 114149. https://doi.org/10.1016/j.solmat.2025.114149