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LID + LETID 
在过去的一年中LID+LETID功率衰减>1%的BOMs数量有所增加，在初始表征、LID和/或LETID期间发生的失效数量也有所增加。增加的功率损失可能归结于用于进行PQP测试的组件其新电池工厂数量的增加。
191
套BOMs是LID+LETID的最佳表现者
36
家制造商是LID+LETID的最佳表现者
13%
的BOMs经历了初始或者LID+LETID失效
PQP中的光致诱导衰减(LID)和热辅助光致衰减(LETID)测试主要量化基于电池相关的现象，这种现象经常被嵌入到发电量模型中以此获得较为准确的数据。LID因电池技术差异有所不同，但主要发生在掺硼的电池中并在组件安装不久后稳定。LETID主要发生在早期PERC电池，在较热的气候条件下更为严重。LETID的衰减通常在数月或数年后达到最大值。
LID + LETID 要点
衰减上升
79 %
结合LID + LETID的数据来看其79%测试的BOMs功率衰减<1%
这比 2025 年记分卡中报告的93%测试的BOMs衰减<1%上有所下降。对比2024，2025年生产的BOMs其中位衰减值和平均衰减值略有增加(虽然没有统计学意义)。新增电池工厂可以说明此变化. 有关更多信息，请参阅下面的功率衰减图。
失效持续存在
13 %
的BOMs至少经历了一次初始失效，LID失效和/或LETID失效
在初始、LID和LETID测试期间检测到的失效包括6%的BOMs在初始表征过程中出现脱层失效，3%的BOMs在初始表征过程中或LETID测试期间经历了安全失效，3%的LID BOMs经历了功率衰减失效，以及1%的LID BOMs经历了组件破裂 请参阅失效页面了解更多信息。
不同电池技术下的LID性能
0.4 %
在所有电池技术中LID功率衰减中值为0.4%
在2026记分卡里符合条件的BOMs中TOPCon的LID功率衰减中值为0.4%，PERC为0.6%，HJT为0.7%及xBC为0.6%。特别说明，HJT和xBC的样本量较低。除TOPCon外其他电池技术的LID中位数的增加是值得关注的。
不同电池技术下的LETID性能
0.1 %
在所有电池技术中LETID功率衰减中值为
在2026记分卡里符合条件的BOMs中TOPCon的LETID功率衰减中值为0.1%，PERC为0.1%，HJT为0.4%及xBC为0.1%。尽管这些电池技术的中位数较低，但一套TOPCon BOM的最大LETID功率衰减为1.4%，这表明这种失效模式尚未完全消除。
LID + LETID 测试 结果聚焦
在过去的几年里，掺镓PERC和n型电池技术的引入促使LID达到了可以忽略不计的水平；然而，新型掺杂剂可能会改变这一趋势。最近一套掺磷锑(P+Sb)的n型TOPCon BOM就是这种情况。该BOM的平均功率衰减为1.9%，是自2020年掺硼PERC BOM以来的最高功率衰减。建议对共掺杂P+Sb进行进一步的研究，因为这种衰减背后的机制目前尚不清楚。
初始
LID测试后 – 2.2%功率衰减
LID测试后的EL图像显示整个变暗并带有轻微的“棋盘”模式，表明电池间的衰减率不一致。单击每张图像以查看相应的全尺寸EL图片
LID + LETID BOMs 的功率衰减
2023年之前，所有结果为LID与LETID486的平均衰减值之和。2023年4%的结果，2024年93%的结果和2025年所有结果是LID与CID后的LID324平均衰减值之和。
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